x荧光光谱分析仪

x荧光光谱分析仪

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是指由金属元素或以金属元素为主构成的具有金属特性的材料的统称。包括纯金属、合金、金属间化合物和特种金属材料等。金属材料通常分为黑色金属、有色金属和特种金属材料。 主要信息： x荧光光谱分析仪XEPOS： SPECTRO XEPOS配有预先安装好的应用包，包括：在工厂预先校正好的各种硬件和分析方法。适合分析：土壤、污泥、油中添加剂、水泥、炉渣、耐火材料、电子元器件RoHS检测等。 XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、（汞）等元素分析，检出下限低，灵敏度高、稳定性好，可应对欧洲WEEE、RoHS指令。

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主要特点 x荧光光谱分析仪XEPOS： 主要特点： 1：采用偏振X射线激发样品，具有很低的背景和非常好的灵敏度。（偏振的原理和生活中***摄影技术中用的偏振片原理类似。我们都知道，偏振片的眼镜比普通眼镜好，当然价格也贵） 2：提供8种次级靶可供选择，更好地激发不同的元素；不同的元素需要不同的激发光源，激发效果才较佳。 3：检测器为硅漂移SDD检测器，能量分辨率好于160eV，无须液氮制冷。 4：随机配智能UPS，可以监测电池电量。如果停电时间很久，可以自动关闭机器，无须人员干预。 5：软件内置百余种标样，用户也可以自建标准曲线，谱图识别分析对比等功能非常丰富，是SONY公司认可的这款仪器。 6：云帆兴烨联合斯派克经常举办技术研讨会，客户培训会，交流会等，使客户更好的使用好XRF。 深圳东莞地区典型客户：华为，爱默生，三星，TUV，飞利浦，富士康,同洲电子等几百家。 -------------------------------------------------------------------------------- 主要优势： x荧光光谱分析仪XEPOS： (1) 较好的检测器，精度高并可检低含量：第四代电制冷硅漂移检测器（Peltier Sillicon Draft Detector，简写：PSDD），计数率高达250,000cps，可有效防止计数溢出造成的漏计数。Mn-Ka谱线线分辨率好于170eV，信号灵敏度是其他手持式仪器检测器的10倍。 (2) 一体快速的分析范围：一次同时分析Mg~Th的41个元素只需2s，做各种铝合金、 镁合金的材料分选分析只需10s。 (3) 简洁可靠的仪器结构：在空气中即可分析Al、Mg、Si、P等轻元素，不需要氦气 吹扫或抽真空等复杂装置. (4) 智能化校准：仪器具有多种校正模式(数学模型)方法，在定量分析中可自动应用， 以取得较佳的分析结果；仪器具有ICAL（智能标准化校准）功能；同时在分析间歇中会自动监测仪器温度的变化，并校正因此带来的信号的漂移。 德国斯派克分析仪器公司开发出了一种极其成功的技术，把偏振X射线应用于荧光分析。正如现今在拍摄高质量图片时偏振滤光片是不可替代的工具一样，这种先进的分析技术已成为实验室测定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析仪器公司不断发展这一技术，并推出了新一代的仪器—SPECTRO XEPOS台式偏振X射线荧光光谱仪。 SPECTRO XEPOS内部采用高性能部件，可获得非常好的灵敏度和准确性。采用偏振次级靶以确保较佳激发，12位样品自动交换器，预先安装好的应用软件包和智能软件模块，使SPECTRO XEPOS成为真实的多功能元素分析仪。