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μ-X360J便携式X射线残余应力仪

详细信息

X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一,是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的,今仍然是研究得较为广泛、深入、成熟的残余应力分析和检测方法之一,被广泛的应用于科学研究和工业生产的各领域。2012年日本Pulstec公司开发出基于全二维探测器技术的新一代X射线残余应力分析仪——μ-X360n,将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度,设备推出不久便得到业界的广泛好评。由于其技术之先进、测试数据可重复性之高、使用之便携,设备一经推出便备受业界青睐! 近期,日本Pulstec公司成功克服技术难点,继μ-X360n,μ-X360s之后又发布了新的产品型号:μ-X360J,将全二维面探测器技术的产品设计和功能完善再次升级!

产品特点:

相较于传统的X射线残余应力测定仪,基于全二维探测器技术的μ-X360系列具有以下优点:

更快速:二维探测器一次性采集获取完整德拜环,单角度一次入射即可完成残余应力测量。

更精确:X射线单次曝光可获得500个衍射峰进行残余应力数据拟合,结果更精确。

更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。

更方便:无需任何液体冷却装置,支持便携电池供电。

更强大:支持扩展区域应力分布自动测量功能,具备晶粒尺寸均匀性、材料织构、残余奥氏体含量分析等功能。

测试原理概述:

全二维面探测器技术

--单角度一次入射后,利用二维探测器获得完整德拜环。通过比较没有应力时的德拜环和有应力状态下的变形德拜环的差别来计算应力下晶面间距的变化以及对应的应力
--施加应力后,分析单次入射前后德拜环的变化,即可通过残余应力分析软件获得残余应力数据。

基本参数:

准直器尺寸 标配:直径1mm(其他尺寸可选) X射线管参数 μ-X360J:30KV, 1.6mA | μ-X360s:30KV, 1.5mA X射线管所用靶材 标配:铬靶(可选配其他) 是否需要冷却水 无需 是否需要测角仪 无需 X射线入射角度 单一入射角即可获取全部数据 所用探测器 二维探测器 直接测量参数 残余应力 衍射峰的半峰高全宽 电源参数 130W功率;110-240V;50-60HZ 可否户外现场检测 设备便携、支持便携电池供电


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  • 西安赛普斯科学仪器有限公司,是一家集研发、生产、销售超声波气体泄漏检测仪和工业声学成像仪于一体的科技先导型企业。公司位于历史悠久的文化名城西安,立足国内市场,面向国际,致力于推广和应用先进的超声波检漏和声学成像技术,为工业生产提供高效、精准、可靠的检测设备。   公司拥有一支由专家和资深工程师组成的研发团队,专注于超声波检漏和声学技术的研发和创新。我们以客户需求为导向,结合生产实际,不断推出适应不同行业、不同应用场景的超声波检漏和声学成像产品。我们的产品已广泛应用于石油化工、汽车制造、航空航天、电力电站、食品饮料,机械加工,第三方检测,高校,科研院所,国企事业单位等多个领域,得到了客户的一致认可和好评。 北京工厂一角     作为国内外知名仪器仪表品牌的代理商,西安赛普斯科学仪器有限公司与美国赛默飞、美国SCIAPS,德国斯派克、德国元素、德国CS,德国XPLOREX,日本Pulstec,阿美特克/ORTEC奥泰克等国内外著名厂家建立了良好的合作关系。我们代理的产品种类丰富,涵盖了光谱仪、X射线荧光光谱仪、便携式X射线残余应力仪、火花直读光谱仪、便携式直读光谱仪,手持式光谱仪,X射线成像系统,X射线衍射仪,高纯锗伽马谱仪,核素识别仪,辐射检测仪等多个品种,为我们的客户提供更全面、更专业的解决方案。       西安赛普斯科学仪器有限公司始终坚持“质量较好,服务至上”的经营理念,以优质的产品、专业的技术和周到的服务,为客户提供全方位、多层次的仪器仪表需求。我们将继续关注市场需求,把握技术趋势,加大研发投入,不断创新和进步,为推动工业生产的进步和发展做出更大的贡献。     展望未来,西安赛普斯科学仪器有限公司将继续秉承“诚实、创新、专业、卓越”的企业精神,与广大客户携手共进,共创美好未来。我们期待与您合作,共同探索分析技术的无限可能,为科技应用和发展贡献我们的力量。

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